硬盘损坏时可以采取哪些措施找回数据（硬盘损坏的类别区分）
一般来说 ，硬盘的损坏按大类可以分为硬损坏和软损坏 。 硬损坏包括磁头组件损坏 、控制电路损坏 、综合性损坏和扇区物理性损坏（一般人称之为物理坏道）四种 。 磁头组件损坏：主要指硬盘中磁头组件的某部分被损坏 ，造成部分或全部磁头无法正常读写的情况 。磁头组件损坏的方式和可能性非常多 ，主要包括磁头脏 、磁头磨损 、磁头悬臂变形 、磁线圈受损 、移位等 。 控制电路损坏：是指硬盘的电子线路板中的某一部分线路断路或短路 ，或者某些电气元件或IC芯片损坏等等 ，导致硬盘在通电后盘片不能正常起转 ，或者起转后磁头不能正确寻道等 。 综合性损坏：主要是指因为一些微小的变化使硬盘产生的种种问题 。有些是硬盘在使用过程中因为发热或者其他关系导致部分芯片老化；有些是硬盘在受到震动后 ，外壳或盘面或马达主轴产生了微小的变化或位移；有些是硬盘本身在设计方面就在散热 、摩擦或结构上存在缺陷 。种种的原因导致硬盘不稳定 ，经常丢数据或者出现逻辑错误 ，工作噪音大 ，读写速度慢 ，有时能正常工作但有时又不能正常工作等 。 扇区物理性损坏：是指因为碰撞 、磁头摩擦或其他原因导致磁盘盘面出现的物理性损坏 ，譬如划伤 、掉磁等 。 软损坏包括磁道伺服信息出错 、系统信息区出错和扇区逻辑错误（一般又被称为逻辑坏道） 。 磁道伺服信息出错：是指因为某个物理磁道的伺服信息受损或失效 ，导致该物理磁道无法被访问 。 系统信息区出错：是指硬盘的系统信息区（硬盘内部的一个系统保留区 ，里面又分成若干模块 ，保存了许多硬盘出厂的参数 、设置信息和内部控制程序）在通电自检时读不出某些模块的信息或者校验不正常 ，导致硬盘无法进入准备状态 。 扇区逻辑错误：是指因为校验错误（ECC错误和CRC错误） 、扇区标志错误（IDNF错误） 、地址信息错误（AMNF错误） 、坏块标记错误（BBM）等原因导致该扇区失效 。
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