硬盘损坏时可以采取哪些措施找回数据（硬盘损坏的类别区分）

一般来说    
    
   ，硬盘的损坏按大类可以分为硬损坏和软损坏    
    
    
。 硬损坏包括磁头组件损坏    
    
   、控制电路损坏     


     


     

、综合性损坏和扇区物理性损坏（一般人称之为物理坏道）四种


     


     


   。 磁头组件损坏：主要指硬盘中磁头组件的某部分被损坏     


     


     

，造成部分或全部磁头无法正常读写的情况
 




 




 

。磁头组件损坏的方式和可能性非常多




 




 




，主要包括磁头脏




 




 




、磁头磨损
   

   

  、磁头悬臂变形     

     

     
、磁线圈受损 




  




  




、移位等   

   

   

。 控制电路损坏：是指硬盘的电子线路板中的某一部分线路断路或短路
   

   

  ，或者某些电气元件或IC芯片损坏等等     

     

     
，导致硬盘在通电后盘片不能正常起转 




  




  




，或者起转后磁头不能正确寻道等 

     

     

  。 综合性损坏：主要是指因为一些微小的变化使硬盘产生的种种问题

  




  




  
。有些是硬盘在使用过程中因为发热或者其他关系导致部分芯片老化；有些是硬盘在受到震动后

  


  


 ，外壳或盘面或马达主轴产生了微小的变化或位移；有些是硬盘本身在设计方面就在散热

  


  


 、摩擦或结构上存在缺陷  


  


  


。种种的原因导致硬盘不稳定     
     
     ，经常丢数据或者出现逻辑错误  




   




   




，工作噪音大


 



 



，读写速度慢               ，有时能正常工作但有时又不能正常工作等  
     
     
 。 扇区物理性损坏：是指因为碰撞     
     
     、磁头摩擦或其他原因导致磁盘盘面出现的物理性损坏   




    




    



，譬如划伤  




   




   




、掉磁等


   




   




   。 软损坏包括磁道伺服信息出错


 



 



、系统信息区出错和扇区逻辑错误（一般又被称为逻辑坏道） 



 



 



。 磁道伺服信息出错：是指因为某个物理磁道的伺服信息受损或失效













，导致该物理磁道无法被访问             。 系统信息区出错：是指硬盘的系统信息区（硬盘内部的一个系统保留区              ，里面又分成若干模块    



     



     


，保存了许多硬盘出厂的参数               、设置信息和内部控制程序）在通电自检时读不出某些模块的信息或者校验不正常














，导致硬盘无法进入准备状态



    




    




    。 扇区逻辑错误：是指因为校验错误（ECC错误和CRC错误）   




    




    



、扇区标志错误（IDNF错误）













、地址信息错误（AMNF错误）              、坏块标记错误（BBM）等原因导致该扇区失效













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